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    KSC-230-美国磁通QQI 磁粉探伤试片

    KSC-230-美国磁通QQI 磁粉探伤试片
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    供应数量:
    135
    发布日期:
    2019/5/5
    有效日期:
    2019/11/5
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    美国磁通I 磁粉探伤试片

    I试片
    定量品质试片
    I是带有人工缺陷的标准磁粉检测试片。用于:将激磁次数降至zui少,以提高生产效率;确定磁场方向和相对的磁场强度;平衡多向磁场。
    标准I试片
    缺陷成基园和十字交叉条形,用于纵向和轴向磁场。
     型号:KSC-430 标准I试片,缺陷深度为试片厚度的30%,试片厚度为0.004英寸。

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