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    CSK-IA-超声波试块

    CSK-IA-超声波试块
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    供应数量:
    276
    发布日期:
    2019/5/5
    有效日期:
    2019/11/5
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    超声波试块,超声波试块,超声波试块

    CSK-IA试块是我国承压设备无损检测标准NB/T47013中规定的标准试块,其结构尺寸如图所示。

    使用说明及测试方法

    1.水平线性(时基线性)的检验

    水平线性又称时基线性,或扫描线性。是指输入到超声检测仪中的不同回波的时间间隔与超声检测仪显示屏时基线上回波的间隔成正比关系的程度。水平线性影响缺陷位置确定的准确度。水平线性的测试可利用任何表面光滑、厚度适当,并具有两个相互平行的大平面的试块,用纵波直探头获得多次回波,并将规定次数的两个回波调整到与两端的规定刻度线对齐,之后,观察其他的反射回波位置与水平刻度线相重合的情况。其测试步骤如下:

    (1)将直探头置于CSK-ⅠA试块上,对准25mm厚的大平底面,如图a所示

    (2)调整微调、水平或脉冲移位等旋钮,使示波屏上出现五次底波B1到B5,且使B1对准2.0,B5对准10.0,如图b所示

    (3)观察和记录B2、B3、B4与水平刻度值4.0、6.0、8.0的偏差值a2、a3、a4。

    (4)计算水平误差:公式

    式中,amax——a2,a3,a4中zui大者

          b——示波屏水平满刻度值

    2.纵波探测范围和扫描速度的调整

    在利用纵波探伤时,可以利用试块的已知厚度来调整探测范围和扫描速度,此过程我往往和检验时基线性同步进行。当探测范围在250mm以内时,可将探头置于25mm厚的大平底上,使四次底部回波位于刻度四,十次底部回拨位于刻度十,则刻度十就代表实际探测声程为250mm。当探测声程范围大于250mm时,可将探头置于如图的B或C处,使各次底波位于相应的刻度处,此时起始零点亦同时得到修正。

    3.横波探测范围和扫描速度的调整

    由于纵波的声程91mm相当于横波声程50mm,因此可以利用试块上91mm来调整横波的检测范围和扫描速度。例如横波1:1,先用直探头对准91底面,是B1、B2分别对准50、100,然后换上横波探头并对准R100圆弧面,找到zui高回波,并调至100即可。

    4.测定仪器和直探头的远场分辨力

    (1)抑制旋钮调至“0”,探头置于如图所示位置,左右移动探头,使显示屏上出现85、91、100三个反射回波A、B、C如图所示,则波峰和波谷的分贝差20Lg(a/b)表示分辨力。

    (2)NB/T47013-2015中规定,直探头远场分辨力大于等于20dB。

    5.测定仪器和斜探头的远场分辨力

    (1)探头置于如图所示位置,对准50mm、44mm、40mm阶梯孔,使示波屏上出现三个反射波。

    (2)平行移动探头并调节仪器,使50mm、44mm回波等高,如图所示,其波峰和波谷分别为h1、h2,其分辨力为

    NB/T47013-2015中规定,斜探头的远场分辨力大于等于12分贝。

    6.测定斜探头入射点

    将探头置于图示位置,向R100mm的圆弧发射超声波,前后移动探头,直到R100mm圆弧面反射波达到zui高点,此时与CSK-1A试块侧面标线中心点“0”相对应的探头契块那一点即为探头入射点。

    7.测定斜探头的K值

    根据探头折射角的大小,将探头置于试块的不同位置进行测量,如图所示。波形图同于入射点波形图。

    测量时,探头应放正使波束中心线与试块侧面平行,前后移动探头,找到50mm孔或1.5mm孔的zui高反射波。此时,声束中心线必然与入射点和圆心之间的连线相重合,即声束中心线垂直于孔表面。这时,试块上与入射点相应的角度线所标的值即为该斜探头的K值。

    8.垂直线性的检验

    将探伤仪的抑制和补偿旋钮置于“0”或“关”用直探头放置在图中A或B位置。并保证探头与试块之间有良好的声耦合。

     调整衰减器使试块底波高度为荧光屏的满刻度,此时必须有30分贝的衰减量。然后每衰减2分贝用百分率读出反射波高度,直到26分贝,在判断30分贝时反射波是否存在,将结果记录表中。评定垂直线性时,以反射波高度的理想波高为基准,以测试值与基准值的zui大正偏差(+d)及zui大负偏差(-d)之和来判定垂直线性。

    D=[|+d|+|-d|]×%

    9.盲区的估计

    盲区是指zui小的探测距离,测试方法是:将直探头置于探头位置图中D、E位置,测量50mm圆孔反射波。从而可以估计出盲区小于等于5mm或大于等于10mm,或者介于两者之间。

    10.zui大穿透能力估计

    将直探头置于探头位置图中F位置,将仪器个灵敏度旋钮均置于zui大,测试试块中有机玻璃块反射波次数和zui后一次反射波高度。以此来估计zui大穿透力,借以比较探伤仪器及探头组合性能随时间变化的情况。

    11.探测灵敏度的调整

     根据AVG原理,在探头探伤时可把R100mm圆弧面视为大平底反射,以此来调整探测灵敏度。直探头探伤时可把厚度为25/100mm的几个侧面视为大平底处理,以此来调整灵敏度。另外,也可以根据探伤要求,仪测量1.5mm横通孔反射波来确定灵敏度。

    12.测定斜探头声束轴线偏离

    在CSK-ⅠA试块上厚25mm的平面上,使声束指向棱边,对于K值小于等于1的探头,声束经底面反射指向上棱角;K值大于1的声束指向下棱角,前后左右摆动探头,使所测棱边端角回波幅度zui高,固定探头不动,然后用量角器或适当的方法测量斜探头几何中心声束轴线与棱边法线的夹角(例如测量探头斜面与试块端面垂直线的夹角),即为声束轴线偏斜角。应当注意:斜探头的声束扩散角较大时,可能影响到zui大回波的探测,以致可能产生较大的测量误差。

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